ERM-EC680k 低濃度 RoHS標(biāo)準(zhǔn)分析，100克顆粒/瓶
ERM-EC681k 高濃度 RoHS標(biāo)準(zhǔn)分析，100克顆粒/瓶
材料Low-density polyethylene, LDPE, plastic,
材料Low-density polyethylene, LDPE, plastic,
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MD-200 COD測(cè)定儀，適用于0-150、0-1500、0-15000 mg/l三種范圍，符合USEPA 410.4、ISO15705標(biāo)準(zhǔn)方法。
高品質(zhì)光學(xué)元件，輕便精巧操作簡(jiǎn)便，單次歸零OTZ功能。可立即使用的德國(guó)原廠專用試劑，取代傳統(tǒng)加熱回流方法，準(zhǔn)確度再現(xiàn)性高。
●型號(hào)：MD200 COD Vario (德國(guó)Tintometer)
●光源：長(zhǎng)效型LED光學(xué)元件，610、430 nm
●電源：3號(hào)電池四個(gè)
●范圍：0-150、0-1500、0-15000…
Fischer標(biāo)準(zhǔn)片Ag-Sn/Sn-Pb/Pd-Ni/Ni-P
X射線測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片，建檔標(biāo)準(zhǔn)片，校正標(biāo)準(zhǔn)片，X射線標(biāo)準(zhǔn)校正，美國(guó)Cal膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片Calibration Standard： X射線測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片膜厚片 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。 適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測(cè)厚儀）、 β-ray（β射線測(cè)厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。特色：標(biāo)準(zhǔn)片A2LA校正認(rèn)證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式專用標(biāo)準(zhǔn)片 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片，專業(yè)用于X…
CMI233 涂層測(cè)厚儀
CMI233 兩用型涂層測(cè)厚儀，可測(cè)量：磁性底材上的非磁性涂層厚度，如鋼鐵上的非磁
性涂鍍層，油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等；非磁性底材上的非磁性涂層厚度，如銅、鋁、奧
氏體不銹鋼上的所有絕緣層，陽(yáng)極氧化膜、油漆、涂料等。
主要用于：涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)的表面涂層。
探針類型 探針形狀 探針型號(hào)
最小凸面
半徑mm
最小凹面
半徑mm
測(cè)量高度
mm
最小測(cè)
量區(qū)域
mm
最小識(shí)
別直角
mm
底材最
小厚度
mm
筆直 ECP
11.2
(0.5")
11.2
(0.44")
102
(4.0")
電渦流
直角 REP-3
9.2
(0.36") 14.6
(0.575")
筆直 SMP-2
1.6
（0.06"…
CMI 700專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
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CMI 760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 700臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
同時(shí)CMI 760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。
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CMI 700配置包括：
CMI 700主機(jī)及證書(shū)
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊（…
CMI 700專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
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CMI 760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 700臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
同時(shí)CMI 760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。
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CMI 700配置包括：
CMI 700主機(jī)及證書(shū)
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊…
CMI 700專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
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CMI 760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 700臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
同時(shí)CMI 760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。
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CMI 700配置包括：
CMI 700主機(jī)及證書(shū)
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊（…
深 圳市安達(dá)儀器儀表有限公司——牛津儀器中國(guó)區(qū)域一級(jí)代理商
CMI200涂層測(cè)厚儀
CMI233 兩用型涂層測(cè)厚儀，可測(cè)量：磁性底材上的非磁性涂層厚度，如鋼鐵上的非磁
性涂鍍層，油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等；非磁性底材上的非磁性涂層厚度，如銅、鋁、奧
氏體不銹鋼上的所有絕緣層，陽(yáng)極氧化膜、油漆、涂料等。
主要用于：涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)的表面涂層。
探針類型 探針形狀 探針型號(hào)
最小凸面
半徑mm
最小凹面
半徑mm
測(cè)量高度
mm
最小測(cè)
量區(qū)域
mm
最小識(shí)
別直角
mm
底材最
小厚度
mm
筆直 ECP
11.2
(0.5")
11.2
(0.44")
102
(4.0")
電渦流
直角 REP-3
9.2
(0.36") 14.6…
CMI 200系列CMI 243膜厚儀
英國(guó)牛津Oxford CMI 243是一款專門為測(cè)量磁性金屬基材上的鋅、鎳、鉻、鎘等鍍層厚度而設(shè)計(jì)的便攜式膜厚儀。獨(dú)特的渦電流測(cè)試方法使測(cè)量更精確。高端配置的測(cè)量探頭對(duì)細(xì)小的零件也可以精確測(cè)量。它具有X射線熒光的測(cè)量精度，同時(shí)也避免了庫(kù)侖法對(duì)被測(cè)工件帶來(lái)的破壞。CMI 243在設(shè)計(jì)上更加合理、可靠、實(shí)用。
●ECP-M探頭：鋅、鎳、鉻、鎘均可以測(cè)量
●準(zhǔn)確度：±1%
●測(cè)量范圍：0.08-1.50mils(2-38μm)
●分辨率：0.01mils (0.1μm)
●適用標(biāo)準(zhǔn)：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3
●單位：英制和公制單位自動(dòng)轉(zhuǎn)換
●統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，…